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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：英國Chilworth靜電衰減分析儀JCI155v6

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-06-07

產(chǎn)品簡介：

英國Chilworth靜電衰減分析儀JCI155v6，JCI-155靜電衰減儀可對固體,粉體和液體材料進行監(jiān)測, 軟件功能強大, 是美國國家航空和宇宙航行局（NASA）采用產(chǎn)品. 同時JCI-155v6衰減分析儀還是IEC 61340-2-1標準規(guī)范的模板設(shè)備.

產(chǎn)品特性Product characteristics

      中國電子行業(yè)儀器優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商——堅融實業(yè)JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(上海)測量儀器JETYOO INSTRUMENTS，專業(yè)為中國區(qū)用戶提供儀器設(shè)備、技術(shù)培訓與售后維修服務(wù)，Support、銷售Sale、服務(wù)Service，3S公司，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導向的儀器綜合服務(wù)商，是您值得信賴的電子行業(yè)儀器專家。

英國Chilworth靜電衰減分析儀JCI155v6
Electrostatic Charge Decay Time Analyser JCI-155v6
JCI-155 靜電衰減分析儀由英國Chilworth公司開發(fā)制造. Chilworth是的爆炸/燃燒危害檢測機構(gòu), 同時也是相關(guān)專業(yè)儀器和設(shè)備的制造商. JCI-155 靜電衰減分析儀經(jīng)歷了3代的發(fā)展過程, 從zui初的155v4 到155v5, 型號為155v6.
JCI-155靜電衰減儀可對固體,粉體和液體材料進行監(jiān)測, 軟件功能強大, 是美國國家航空和宇宙航行局(NASA)采用產(chǎn)品. 同時JCI-155v6衰減分析儀還是IEC 61340-2-1標準規(guī)范的模板設(shè)備.
JCI 155v6用于測試材料的靜電衰減時間和電容負載
可直接將JCI 155v6 放置在測試材料上測量
測量范圍: 10毫秒-99小時
測試反應(yīng)時間: 10毫秒
測試電壓(電暈放電): 0-9.9kV(可以選擇正負極性)
衰減測試比例: 1%-99%的衰減時間
同時測量環(huán)境溫濕度
特別設(shè)計氣閘效應(yīng), 消除殘留空氣離子干擾
高精度靜電壓測試探頭
采用配套JCI176樣品臺可測量轉(zhuǎn)移到測試料樣上的電量, 并計算出電容負載
采用配套JCI173樣品杯可以測量粉體和液體的靜電衰減期
配套JCI-Graph軟件在電腦中儲存分析數(shù)據(jù),衰減曲線和形成報告

品牌: JCI
制造商: Chilworth Technology Ltd
產(chǎn)地: 英國
訂購編號:     描述:
JCI155v6     包含以下物品
      測試儀
      JCI176樣品臺, 用于測試平面材料, 可以測試材料電荷負載
      JCI173樣品杯, 用于測試粉體和液體
      測試儀和樣品臺連接纜線, 1條
      接地線, 2條
      長USB數(shù)據(jù)線, 1條, 用于連接儀器和電腦
      短USB數(shù)據(jù)線, 1條, 用于外接U盤
      配套軟件
      校正書和說明書
 
 
 
英國Chilworth靜電衰減分析儀JCI155v6性能優(yōu)點
JCI-155v6靜電分析儀是IEC 61340-2-1規(guī)范所采用的*設(shè)備 
JCI-155v6靜電分析儀式是美國國家航空和宇宙航行局（NASA）采用產(chǎn)品 
 
JCI-155v6是一款小巧輕便的測試儀器，采用電暈放電方式施加電荷到被測材料表面，可以快速、精確地測量材料的靜電消散能力和評估一定數(shù)量的電荷轉(zhuǎn)移到材料上時，是否會產(chǎn)生明顯的靜電位。 
 
JCI-155v6主要由電壓計、電暈放電裝置、計時器、機械運動結(jié)構(gòu)、內(nèi)部處理器和儲存器構(gòu)成。高壓電暈放電施加電荷到測試料樣表面，電壓計對表面電壓進行測量，計時器對過程計時，所有過程由內(nèi)部處理器控制及處理數(shù)據(jù)。 
 
所有的操作和數(shù)據(jù)處理都由JCI-155v6的處理器和軟件完成，通過5個多功能按鍵來進行人機交互。測試測試數(shù)據(jù)保存在儀器內(nèi)存中，可以通過USB接口輸出到個人電腦。 
 
儀器本身大屏幕LCD可以顯示測試讀數(shù)和曲線圖。采用USB連接線連接個人電腦后，通過配套JCI-Graph軟件可以在電腦端控制儀器，設(shè)置測試參數(shù)。所有數(shù)據(jù)可以輸出到電腦并保存為表單文件，測試數(shù)據(jù)和圖形可以直接打印，復(fù)制粘貼到其他應(yīng)用程序（例如WORD）。 
 
配套JCI-176樣品臺提供一個標準的測試平臺，可以方便地固定被測材料。JCI-176還可以測試材料所獲得的電荷量，進而計算電容負載。在JCI-176樣品臺的基礎(chǔ)上加上JCI-173樣品杯可以測試粉體和液體。 
 
JCI-155v6采用特殊結(jié)構(gòu)，不同于傳統(tǒng)的靜電衰減監(jiān)測儀。傳統(tǒng)的靜電衰減監(jiān)測儀要求把被測試材料按規(guī)定尺寸切割后放置在一個旋轉(zhuǎn)的接地平臺上，被測試材料周期性的經(jīng)過，電壓探頭下方，以此來周期性的獲取信號來計算衰減特性。 
 
JCI-155v6采用旋轉(zhuǎn)葉片式電壓探頭，這樣可以直接周期性的獲取信號，被測試料樣不用特殊處理，也不需要運動。因此JCI-155v6的整體結(jié)構(gòu)更加緊密輕巧，可以直接放置在被測材料上進行測試。 
 
 
主要參數(shù) 
電暈放電電壓：0-9900V（默認設(shè)置7000V） 
電暈放電時間：0-50ms，以2ms增幅設(shè)置（默認設(shè)置20ms） 
初始電壓取值時間：0-100ms，以10ms增幅設(shè)置（默認設(shè)置20ms） 
測試結(jié)束點：可以選擇以下4種 
低于+/-2V自動結(jié)束測試 
到達1/e 和設(shè)置的衰減百分比（可設(shè)置1%-99%），默認設(shè)置10% 
開始測試后1-99h（按1h增幅設(shè)置） 
手動停止測試 
滑板開啟并移動速度：20ms（快），0.75s（慢） 
 
 
采用JCI-176樣品臺可以測量電容負載（相對電容） 
測試固體材料時，把被測試材料加入JCI-176樣品臺 
測試粉體、液體材料時，把JCI-173樣品杯夾入JCI-176樣品臺