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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：美國吉時(shí)利keithley源表SMU

產(chǎn)品型號：2636B

更新時(shí)間：2025-06-07

產(chǎn)品簡介：

2636B源表IC、RFIC、MMIC
激光二極管、激光二極管模塊、LED、光電檢測器
電路保護(hù)器件:
TVS、MOV、熔絲
安全氣囊
連接器、開關(guān)、繼電器
碳納米管
半導(dǎo)體納米線
碳納米管 FET
納米傳感器和陣列
單電子晶體管
分子電子
有機(jī)電子
基本運(yùn)放電路
二極管和電路
晶體管電路

產(chǎn)品特性Product characteristics

 中國電子行業(yè)儀器優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商——堅(jiān)融實(shí)業(yè)JETYOO INDUSTRIAL，Support、銷售Sale、服務(wù)Service，3S公司，提供解決方案、測試測量技術(shù)改進(jìn)、技術(shù)培訓(xùn)、采購管理、售后維修服務(wù)。

吉時(shí)利KEITHLEY2600B系列源表研究領(lǐng)域：
各種器件的I-V功能測試和特征分析，包括：
 離散和無源元件 
–兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動器頭、金屬氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻
–三抽頭器件——小信號雙極結(jié)型晶體管（BJT）、場效應(yīng)晶體管（FET）等等 
 簡單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感器
 集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI）
–模擬IC 
–射頻集成電路（RFIC）
–集成電路（ASIC）
–片上系統(tǒng)（SoC）器件
 光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管、高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器（VCSEL）、顯示器
 圓片級可靠性
- NBTI、TDDB、HCI、電遷移
 太陽能電池
 電池
暫態(tài)抑制器件
IC、RFIC、MMIC
激光二極管、激光二極管模塊、LED、光電檢測器
電路保護(hù)器件:
TVS、MOV、熔絲
安全氣囊
連接器、開關(guān)、繼電器
碳納米管
半導(dǎo)體納米線
碳納米管 FET
納米傳感器和陣列
單電子晶體管
分子電子
有機(jī)電子
基本運(yùn)放電路
二極管和電路
晶體管電路

測試：
漏流
低壓、電阻
LIV
IDDQ
I-V特征分析
隔離與軌跡電阻
溫度系數(shù)
正向電壓、反向擊穿、漏電流
直流參數(shù)測試
直流電源
HIPOT
介質(zhì)耐受性

雙極結(jié)型晶體管設(shè)計(jì)
結(jié)型場效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
太陽能電池和 LED 設(shè)計(jì)
高電子遷移率晶體管設(shè)計(jì)
復(fù)合半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)

分析納米材料和實(shí)驗(yàn)器件
碳納米管的電測量標(biāo)準(zhǔn)
測量碳納米管電氣特性
提高納米電子和分子電子器件的低電流測量
在低功率和低壓應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、可靠的電阻測量
納米級器件和材料的電氣測量
提高超高電阻和電阻率測量的可重復(fù)性
一種微分電導(dǎo)的改進(jìn)測量方法
納米技術(shù)準(zhǔn)確電氣測量的技術(shù)
納米級材料的電氣測量
降低外部誤差源影響的儀器技術(shù)
迎接65nm節(jié)點(diǎn)的測量挑戰(zhàn)
測量半導(dǎo)體材料的高電阻率和霍爾電壓
用微微微安量程測量電流
柵極電介質(zhì)電容電壓特性分析
評估氧化層的可靠性

的半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)低電阻、低功耗半導(dǎo)體器
輸出極低電流和測量極低電壓分析現(xiàn)代材料、半導(dǎo)體和納米電子元件的電阻
低阻測量(低至10nΩ)分析導(dǎo)通電阻參數(shù)、互連和低功率半導(dǎo)體。
用于*進(jìn)CMOS技術(shù)的脈沖可靠性測試
高K柵極電介質(zhì)電荷俘獲行為的脈沖特性分析
用6線歐姆測量技術(shù)進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的電阻測量
配置分立電阻器驗(yàn)證測試系統(tǒng)
電信激光二極管模塊的高吞吐率直流生產(chǎn)測試
多臺數(shù)字源表的觸發(fā)器同步
高亮度、可見光LED的生產(chǎn)測試
OLED顯示器的直流生產(chǎn)測試
在運(yùn)行中第5次測量用于偏置溫度不穩(wěn)定特性分析
數(shù)字源表的緩沖器以及如何用這兩個(gè)緩沖器獲取多達(dá)5000點(diǎn)數(shù)據(jù)
連接器的生產(chǎn)測試方案
射頻功率晶體管的直流電氣特性分析

1. MOS 電容器
C-V 曲線 (高頻：100kHz)：
摻雜類型 – 氧化層厚度 – 平帶電壓 – 閾值電壓 – 襯底摻雜 – zui大耗盡層寬度 – 反型層到平衡的靈敏度：電壓掃描率和方向 – 光效應(yīng)和溫度效應(yīng)。
I-V 曲線分析：
電荷建立 (測量電壓 - 時(shí)間圖，用低電流源)； 氧化層電容測定； 與 C-V 曲線比較。
C-V 曲線 (準(zhǔn)靜態(tài)) 結(jié)合 C-V 曲線：
表面電位 Ψs 與施加電壓的關(guān)系 – Si (100) 的表面態(tài)密度 Dit = f (Ψs) 與 Si (111) 的相比：方向和后處理退火的影響。
C-V 曲線 (高頻：100kHz)：
移動氧化層電荷密度 (偏壓溫度應(yīng)力：200°C，10 分鐘，±10V)
 
2. 雙極結(jié)型晶體管
     主題
   正向共發(fā)射極輸出特性：Ic = f (Vce>0,Ib), Iceo (f) 測量。
   正向 CE 輸入特性：Ib = f (Vbe) 對于幾個(gè) Vce 正值。
   正向 Gummel 曲線： log Ic, log Ib = f(Vbe >0).
   確定增益 βf = Ic/Ib 和 af。
   Βf 與 log(Ic) 的關(guān)系： 低注入和高注入的效果。
   非理想特性：爾利電壓。
   反向 CE 輸出特性： Ic=f(Vce<0,Ib), Iceo(r).
   反向 CE 傳輸特性：Ib=f(Vbe) 對于幾個(gè)Vce負(fù)值。
   反向 Gummel 曲線： logIe, logIb=f(Vbc>0).
   確定增益 βr = Ie/Ib 和 ar。
   Βr 與 log(Ie) 的關(guān)系： 低注入和高注入的效果。
   Vce(sat) = Vbe(on) – Vbc(on) 確定，對于給定的 Ib 電流。
   Ebers Moll 模型構(gòu)建并且與實(shí)驗(yàn)做比較。
   BE 和 CE 結(jié)的 C-V 特性分析?；鶇^(qū)摻雜濃縮。
 
3. 亞微米集成 MOSFET
輸出特性：IDS = f(VDS,VGS):
p型 MOSFET (增強(qiáng)或耗盡)，溝道長度調(diào)制參數(shù)(λ) 在飽和區(qū)域 (VDS<–3V) 有效溝道長度與 VDS 的關(guān)系。
傳輸特性：
IDS = f(VGS) and Transconductance gm = f(VGS) in the linear region (VDS = –0.1V): Determination of the threshold voltage VT and of the transconductance factor k.  
Derivation of the effective channel mobility μeff as function of VGS.
襯底偏壓特性： 
IDS = f(VGS,VBS>0), determination of the γ factor in the linear region (VDS = –0.1V). Doping concentration substrate.
亞閾值特性：
log (IDS) = f(VGS) for several high VDS values: Drain Induced Barrier Lowering (VT shift) effect.
襯底電流特性：
log (Ibs) = f(VGS) for several high VDS values: Hot carrier injection effects. Incidence on output characteristics at high drain levels.
使用長溝道和短溝道公式的輸出特性模型：比較實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

美國吉時(shí)利KEITHLEY2600數(shù)字源表進(jìn)行VCSEL測試
美國吉時(shí)利KEITHLEY2600測量光伏電池的I-V特性
美國吉時(shí)利KEITHLEY2400系列數(shù)字源表的SCPI應(yīng)用轉(zhuǎn)換為2600系列源表的腳本應(yīng)用
美國吉時(shí)利KEITHLEY2600系列數(shù)字源表進(jìn)行IDDQ測試和待機(jī)電流測試
使用兩臺美國吉時(shí)利KEITHLEY2600型數(shù)字源表輸出2A電流
美國吉時(shí)利KEITHLEY2600或其它非脈沖模式源表產(chǎn)生電流 (或電壓) 脈沖
美國吉時(shí)利KEITHLEY2600系列數(shù)字源表提升多引腳器件的生產(chǎn)量
美國吉時(shí)利KEITHLEY2602數(shù)字源表創(chuàng)建可擴(kuò)縮、多引腳、多功能IC測試系統(tǒng)
美國吉時(shí)利KEITHLEY2602數(shù)字源表對激光二極管模塊和VCSEL進(jìn)行高吞吐率直流生產(chǎn)測試
美國吉時(shí)利KEITHLEY2600系列數(shù)字源表進(jìn)行二極管生產(chǎn)測試
美國吉時(shí)利KEITHLEY2600系列數(shù)字源表進(jìn)行高亮度、可見光LED的生產(chǎn)測試
美國吉時(shí)利KEITHLEY2600系列數(shù)字源表進(jìn)行IDDQ測試和待機(jī)電流測試
美國吉時(shí)利KEITHLEY2600 數(shù)字源表驗(yàn)證變阻器
美國吉時(shí)利KEITHLEY2600系列源表進(jìn)行電池放電/充電周期
美國吉時(shí)利KEITHLEY2600配置電阻網(wǎng)絡(luò)的生產(chǎn)測試系統(tǒng)
美國吉時(shí)利KEITHLEY2651 2kW 脈沖源表進(jìn)行大電流變阻器的生產(chǎn)測試
美國吉時(shí)利KEITHLEY2600數(shù)字源表進(jìn)行熱敏電阻的生產(chǎn)測試

2636B美國吉時(shí)利keithley源表SMU，雙通道（0.1fA、200V、1.5A直流/10A脈沖）
源/測量功能  

- 雙通道型號具有60W輸出功率（30W/通道）
    - 4象限源/測量具有6位半分辨率
    - 電流zui大值/zui小值：1.5A直流、10A脈沖/0.1fA
    - 電壓zui大值/zui小值：200V/100nV

一般特性  

- 內(nèi)建“即插即用”基于Java的I-V特性分析和測試軟件
    - TSP®（測試腳本處理）技術(shù)在測量儀器內(nèi)嵌入了完整測試程序
    - TSP-Link®擴(kuò)展技術(shù)面向多通道并行測試
    - 軟件仿真基于吉時(shí)利2400源表SMU
    - 大屏幕、易于閱讀、雙行顯示

作為2600B系列源表SMU系列產(chǎn)品的一部分，2636B源表SMU是全新改良版雙通道SMU，具有緊密集成的4象限設(shè)計(jì)，能同步源和測量電壓/電流以提高研發(fā)到自動生產(chǎn)測試等應(yīng)用的生產(chǎn)率。1.5A直流、10A脈沖、200V輸出的寬量程和0.1fA測量分辨率使其非常適于測試寬范圍較低電流的器件和材料。除保留了2636A的全部產(chǎn)品特點(diǎn)外，2636B還具有6位半分辨率、USB 2.0連接性以及能輕松移植遺留測試代碼的2400源表SMU軟件指令仿真。2636B配備了吉時(shí)利的高速TSP®技術(shù)（比傳統(tǒng)PC至儀器的通信技術(shù)快200%），這極大提高了系統(tǒng)級速度，降低了測試成本。TSP-Link®接口實(shí)現(xiàn)了多通道并行測試并擴(kuò)展了測試系統(tǒng)，沒有主機(jī)開銷。

2636B美國吉時(shí)利keithley源表SMU可選配件
2600-KIT螺釘端子連接器套件
7078-TRX -1型低噪聲三同軸電纜，長度為0.3米（1 ft），（適用于236、237、238、6514、6517A、7072）
7078-TRX -3型低噪聲三同軸電纜，長度為0.9米（3 ft），（適用于236、237、238、6514、6517A、7072）
7078-TRX -5型低噪聲三同軸電纜，長度為1.5米（5 ft），（適用于236、237、238、6514、6517A、7072）
7078-TRX -10型低噪聲三同軸電纜，長度為3米（10 ft），（適用于236、237、238、6514、6517A、7072）
7078-TRX -12型低噪聲三同軸電纜，長度為3.5米（12 ft），（適用于236、237、238、6514、6517A、7072）
7078-TRX -20型低噪聲三同軸電纜，長度為6.1米（20 ft），（適用于236、237、238、6514、6517A、7072）
7078-TRX- GND型無防護(hù)3槽公三同軸至BNC適配器（適用于236、237、238、4801、6517A、7051、7072、7072-HV）
8606型高性能模塊化探頭套件（適用于2000、2001、2002、2010、2400系列）
2600-STD-RES型校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)（適用于2635和2636）
2600-TLINK型數(shù)字I/O至TLINK適配電纜，長度為1米
CA-180-3A型TSP-Link電纜
7007-1：雙層屏蔽高級GPIB接口電纜，長度1米（3.3ft）（用于GPIB互連）
7007-2：雙層屏蔽高級GPIB接口電纜，長度2米（6.6ft）（用于GPIB互連）
KUSB-488A型IEEE-488.2 USB-GPIB接口適配器，適用于USB接口，內(nèi)置2米（6.6ft）電纜
4299-1型單機(jī)架安裝套件，帶前支架和后支架
4299-2型雙機(jī)架安裝套件，帶前支架和后支架
LR8028，LR:8028型成分測試夾具-優(yōu)化設(shè)備測試到200V/1A
8101-4TRX，8101-4TRX型成分測試夾具-優(yōu)化低電壓設(shè)備測試
8101-PIV，8101-PIV型成分測試夾具-優(yōu)化低電壓設(shè)備測試
供選擇的配件
CA-180-3A型TSP-Link電纜

2636B配套產(chǎn)品
Model 2651A High Power System SourceMeter Instrument with 2000W Pulsed Power, 200W DC Power, and up to 50A @ 40V with pA and uV Resolution
Model 2657A High Power System SourceMeter Instrument with up to 180W of DC or pulsed power （+/-3000V@20mA, +/-1500V@120mA）
Model 3706A Six-Slot System Switch with High Performance DMM
Model 3706A-NFP Six-Slot System Switch with High Performance DMM, without Front Panel Display and Keypad
Model 3706A-S Six-Slot System Switch
Model 3706A-SNFP Six-Slot System Switch, without Front Panel Display and Keypad
Model 707B 6-Slot, Semiconductor Switching Matrix w/ up to 576 Crosspoints - New Features and Improved Performance
7001，7001型80通道程控開關(guān)控制器
ACS自動特征分析套件系統(tǒng)

2636B系列產(chǎn)品
2601B源表SMU，單通道（100fA、40V、3A直流/10A脈沖）
2602B源表SMU，雙通道（100fA、40V、3A直流/10A脈沖）
2611B源表SMU，單通道（100fA、200V、1.5A直流/10A脈沖）
2612B源表SMU，雙通道（100fA、200V、1.5A直流/10A脈沖）
2635B源表SMU，單通道（0.1fA、200V、1.5A直流/10A脈沖）
2604B源表SMU，雙通道（100fA、40V、3A直流/10A脈沖），臺式版本
2614B源表SMU，雙通道（100fA、200V、1.5A直流/10A脈沖），臺式版本
2634B源表SMU，雙通道（1fA、200V、1.5A直流/10A脈沖），臺式版本
2636A型雙通道系統(tǒng)數(shù)字源表（1fA, 10A脈沖）