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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱(chēng)：美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY6487皮安表

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-06-07

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

堅(jiān)融公司專(zhuān)注小信號(hào)測(cè)試十年整，可協(xié)助用戶(hù)解決美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY6487皮安表測(cè)試疑難。

產(chǎn)品特性Product characteristics

專(zhuān)業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦，專(zhuān)注工業(yè)測(cè)試領(lǐng)域十六年，志在破舊立新！*進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷(xiāo)售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒(méi)有，而代理經(jīng)銷(xiāo)商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷(xiāo)售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，以我們*進(jìn)*的經(jīng)營(yíng)理念，與客戶(hù)互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶(hù)采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作，提供較有競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國(guó)用戶(hù)提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

堅(jiān)融公司專(zhuān)注小信號(hào)測(cè)試十年整，可協(xié)助用戶(hù)解決測(cè)試疑難。美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY6487皮安表應(yīng)用領(lǐng)域

碳納米管
半導(dǎo)體納米線
碳納米管 FET
納米傳感器和陣列
單電子晶體管
分子電子
有機(jī)電子
基本運(yùn)放電路
二極管和電路
晶體管電路
雙極結(jié)型晶體管設(shè)計(jì)
結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
太陽(yáng)能電池和 LED 設(shè)計(jì)
高電子遷移率晶體管設(shè)計(jì)
復(fù)合半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)

分析納米材料和實(shí)驗(yàn)器件
碳納米管的電測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
測(cè)量碳納米管電氣特性
提高納米電子和分子電子器件的低電流測(cè)量
在低功率和低壓應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、可靠的電阻測(cè)量
納米級(jí)器件和材料的電氣測(cè)量
提高超高電阻和電阻率測(cè)量的可重復(fù)性
一種微分電導(dǎo)的改進(jìn)測(cè)量方法
納米技術(shù)準(zhǔn)確電氣測(cè)量的技術(shù)
納米級(jí)材料的電氣測(cè)量
降低外部誤差源影響的儀器技術(shù)
迎接65nm節(jié)點(diǎn)的測(cè)量挑戰(zhàn)
測(cè)量半導(dǎo)體材料的高電阻率和霍爾電壓
用微微微安量程測(cè)量電流
柵極電介質(zhì)電容電壓特性分析
評(píng)估氧化層的可靠性
用低噪聲美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY4200-SCS進(jìn)行超低電流測(cè)量
4探針電阻率和霍爾電壓測(cè)量

波束監(jiān)測(cè)與放射監(jiān)測(cè)
絕緣體、開(kāi)關(guān)、繼電器和其他元件的漏流測(cè)試
SEM波束電流測(cè)量
光電子器件測(cè)試與特征分析
光纖校準(zhǔn)
DCLF電路中的電路測(cè)試與分析
傳感器特征分析
半導(dǎo)體等器件的I-V測(cè)量
納米電子器件特征分析
教學(xué)實(shí)驗(yàn)

測(cè)量二極管
晶體管
運(yùn)放
有源器件
新的半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)低電阻、低功耗半導(dǎo)體器
輸出極低電流和測(cè)量極低電壓分析現(xiàn)代材料、半導(dǎo)體和納米電子元件的電阻
低阻測(cè)量(低至10nΩ)分析導(dǎo)通電阻參數(shù)、互連和低功率半導(dǎo)體。
用于*進(jìn)CMOS技術(shù)的脈沖可靠性測(cè)試
高K柵極電介質(zhì)電荷俘獲行為的脈沖特性分析
用6線歐姆測(cè)量技術(shù)進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的電阻測(cè)量

美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY6487皮安表特點(diǎn)

電流測(cè)量 20fA(包含噪聲，即-15次方A)～20mA

電阻測(cè)量 10Ω～1PΩ（即15次方Ω）

10fA 分辨率
5位半讀數(shù)
輸入端壓降<200μV
交互式電壓方法測(cè)量電阻
自動(dòng)電壓掃描，用于I-V特性分析
浮地測(cè)量到500V
速度可達(dá)1000 個(gè)讀數(shù)/秒
內(nèi)置486，487仿真命令
IEEE-488 和 RS-232 接口
模擬輸出

KEITHLEY6487美國(guó)吉時(shí)利皮安表除包含KEITHLEY6485的所有功能外增加了500V的電壓源以適用高電阻和電阻率測(cè)量。它比6485有更高的精度和更快的上升時(shí)間，也有阻尼功能用于電容器件的漏電測(cè)試等。這款高性?xún)r(jià)比儀器具有八個(gè)電流測(cè)量量程和高速自動(dòng)量程，可測(cè)量的電流從20fA到20mA，按照每秒1000個(gè)讀數(shù)的速度進(jìn)行測(cè)量，電壓源從 200μV到505V。

標(biāo)準(zhǔn)配件
7078-TRX -3型低噪聲三同軸電纜，長(zhǎng)度為1米Low Noise Triax Input Cable, 1m (3 ft)
8607型1kV，2根香蕉插頭測(cè)試電纜，長(zhǎng)度為1米（3.3 ft），High Voltage Banana Cable Set for Voltage Source Output
CAP-31型保護(hù)屏蔽/罩（適用于3接線柱三同軸連接器）Protective Shield/Cap (3-lug)
CA-186-1B香蕉插頭接地線Ground Connection Cable, Banana to Screw-Lug
CS-459 安全鎖插線Safety Interlock Plug

可選配件
237-TRX-BAR型3接線柱三同軸，母至母（桶形）適配器（用于三同軸電纜互連）
8009型電阻率測(cè)試盒
7007-1：雙層屏蔽高級(jí)GPIB接口電纜，長(zhǎng)度1米（3.3ft）（用于GPIB互連）
KUSB-488B型IEEE-488.2 USB-GPIB接口適配器，適用于USB接口，內(nèi)置2米（6.6ft）電纜