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- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測試方案
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- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
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- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
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- 賓德BINDER試驗箱
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
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- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學(xué)測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
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- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
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