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JCI-155電暈放電法靜電衰減分析
日期：2014-02-18瀏覽：2715次
電暈放電法靜電衰減分析儀Electrostatic Charge Decay Time Analyser JCI-155v6
由英國Chilworth公司開發(fā)制造. Chilworth是的爆炸/燃燒危害檢測機構(gòu), 同時也是相關(guān)專業(yè)儀器和設(shè)備的制造商. JCI-155 靜電衰減分析儀經(jīng)歷了3代的發(fā)展過程, 從zui初的155v4 到155v5, 型號為155v6.
JCI-155靜電衰減儀可對固體,粉體和液體材料進(jìn)行監(jiān)測, 軟件功能強大, 是美國國家航空和宇宙航行局(NASA)采用產(chǎn)品. 同時JCI-155v6衰減分析儀還是IEC 61340-2-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的模板設(shè)備.
JCI 155v6用于測試材料的靜電衰減時間和電容負(fù)載
可直接將JCI 155v6 放置在測試材料上測量
測量范圍: 10毫秒-99小時
測試反應(yīng)時間: 10毫秒
測試電壓(電暈放電): 0-9.9kV(可以選擇正負(fù)極性)
衰減測試比例: 1%-99%的衰減時間
同時測量環(huán)境溫濕度
特別設(shè)計氣閘效應(yīng), 消除殘留空氣離子干擾
高精度靜電壓測試探頭
采用配套JCI176樣品臺可測量轉(zhuǎn)移到測試料樣上的電量, 并計算出電容負(fù)載
采用配套JCI173樣品杯可以測量粉體和液體的靜電衰減期
配套JCI-Graph軟件在電腦中儲存分析數(shù)據(jù),衰減曲線和形成報告
訂購編號 描述
JCI155v6 包含以下物品
測試儀
JCI176樣品臺, 用于測試平面材料, 可以測試材料電荷負(fù)載
JCI173樣品杯, 用于測試粉體和液體
測試儀和樣品臺連接纜線, 1條
接地線, 2條
長USB數(shù)據(jù)線, 1條, 用于連接儀器和電腦
短USB數(shù)據(jù)線, 1條, 用于外接U盤
配套軟件
校正書和說明書
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗箱
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 美國BK PRECISION
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學(xué)測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設(shè)備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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