IEC60068-2/GB2423電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)適用于（電氣、機(jī)電、電子設(shè)備和裝置及其組件、分組件、元件以下統(tǒng)稱樣品）有關(guān)規(guī)范使用，以便使該產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)到達(dá)統(tǒng)一而又具再現(xiàn)性。通過(guò)環(huán)境試驗(yàn)把樣品暴露于自然和人工環(huán)境中，從而對(duì)其在實(shí)際中遇到的使用、運(yùn)輸和貯存條件下的性能作出評(píng)價(jià)。

一、電子電工產(chǎn)品IEC60068-2/GB/T2423
1、低溫試驗(yàn)    
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    GB/T2423.1:2008;IEC60068-2-1:2007
標(biāo)準(zhǔn)名稱    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的使用、運(yùn)輸或貯存的能力
試驗(yàn)方法/條件    Ab非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)
Ad非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)-溫度穩(wěn)定后通電
Ae非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)-整個(gè)過(guò)程通電
嚴(yán)酷等級(jí)    溫度:-65℃;-55℃;-50℃;-40℃;-33℃;-25℃;-20℃;-10℃;-5℃;5℃
時(shí)間    2h，16h，72h，96h
匹配設(shè)備    小型環(huán)境試驗(yàn)箱、小型超低溫試驗(yàn)箱、高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱、高性能高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱、一體式步入試驗(yàn)室
設(shè)備要求    溫度變化速率不超過(guò)1K/min(不超過(guò)5min的平均值)
試驗(yàn)空間溫度容差±2K
    
2、高溫試驗(yàn)    
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    GB/T2423.2:2008;IEC60068-2-2:2007
標(biāo)準(zhǔn)名稱    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的使用、運(yùn)輸或貯存的能力
試驗(yàn)方法/條件    Bb非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)
Bd非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)-溫度穩(wěn)定后通電
Be非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)-整個(gè)過(guò)程通電
嚴(yán)酷等級(jí)    溫度:1,000℃;800℃;630℃;500℃;400℃;315℃;250℃;175℃;155℃;70℃;65℃;60℃;55℃;50℃;45℃;40℃;35℃;30℃
時(shí)間    2h，16h，72h，96h，168h，240h，336，1,000h
匹配設(shè)備    小型高溫試驗(yàn)箱、高溫試驗(yàn)箱、小型環(huán)境試驗(yàn)箱、高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱、高性能高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱、一體式步入試驗(yàn)室
設(shè)備要求    溫度變化速率不超過(guò)1K/min(不超過(guò)5min的平均值)
試驗(yàn)空間溫度容差±2K
    
3、濕熱試驗(yàn)    
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    GB/T2423.3:2006;IEC60068-2-78:2001
GB/T2423.4:2008;IEC60068-2-30:2005
標(biāo)準(zhǔn)名稱    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高濕環(huán)境下的使用、運(yùn)輸或貯存時(shí)的適應(yīng)性
試驗(yàn)方法/條件    恒定濕熱試驗(yàn)
嚴(yán)酷等級(jí)    溫/濕度(30±2)℃(93±3)%RH;(30±2)℃(85±3)%RH;(40±2)℃(93±3)%RH;(40±2)℃(85±3)%RH;
時(shí)間    12h，16h，24h，2d，4d，10d，21d，56d
匹配設(shè)備    小型恒溫恒濕試驗(yàn)箱、小型環(huán)境試驗(yàn)箱、高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱、高性能高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱、一體式步入試驗(yàn)室
設(shè)備要求    試驗(yàn)空間溫度容差±2K，任何兩點(diǎn)偏差小于1K，短期波動(dòng)小于0.5K
    
4、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)    
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    GB/T2423.34:2005;IEC60068-2-38:2009
標(biāo)準(zhǔn)名稱    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   主要用于元器件類試驗(yàn)樣品，以加速方式來(lái)確定試驗(yàn)樣品在高溫、高濕和低溫條條件作用下的耐受性能。
(采用高相對(duì)濕度下的溫度循環(huán)并產(chǎn)生水汽進(jìn)入部分密封試驗(yàn)樣品的“呼吸”作用;還包含低溫暴露，以測(cè)定周期性結(jié)冰對(duì)試驗(yàn)樣品的影響)。
試驗(yàn)方法/條件    (25±2)℃(93±3)%→1.5h～2.5h→(65±2)℃(93±3)%5.5h→1.5h～2.5h→(25±2)℃(93±3)%8h→
1.5h～2.5h→(65±2)℃(93±3)%13.5h→1.5h～2.5h→(25±2)℃(93±3)%24h(17.5h)→0.5h→(-10±2)℃21h→1.5hh→(25±2)℃(93±3)%24h(3.5h)24h為一個(gè)循環(huán)，一般10個(gè)循環(huán);前9個(gè)循環(huán)內(nèi)5個(gè)循環(huán)加入低溫試驗(yàn)
嚴(yán)酷等級(jí)    
時(shí)間    
匹配設(shè)備    小型環(huán)境試驗(yàn)箱、高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱、高性能高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱、一體式步入試驗(yàn)室
設(shè)備要求    1.5h～2.5h內(nèi)溫度在(25±2)℃～(65±2)℃之間變化恒溫和升溫期間，相對(duì)濕度保持在(93±3)%，
降溫時(shí)能保持在80～96%30min以內(nèi)能夠從(25±2)℃降到(-10±2)℃;90min(-10±2)℃升到(25±2)℃
    
5、溫度變化試驗(yàn)    
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    GB/T2423.22:2002;IEC60068-2-14:2009
標(biāo)準(zhǔn)名稱    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化
試驗(yàn)Na:規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的快速溫度變化
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力
試驗(yàn)方法/條件    溫度從低溫試驗(yàn)和高溫試驗(yàn)規(guī)定的試驗(yàn)溫度中選取
循環(huán)次數(shù)5次或者相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定
嚴(yán)酷等級(jí)    嚴(yán)酷等級(jí)由高低溫度值、轉(zhuǎn)換時(shí)間和循環(huán)次數(shù)確定
時(shí)間    暴露時(shí)間為3h，2h，1h，30min或10min轉(zhuǎn)換時(shí)間(2～3)min，(20～30)s，＜10s恢復(fù)時(shí)間≤0.1暴露時(shí)間

匹配設(shè)備    小型提籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱、大型提籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱
設(shè)備要求    風(fēng)速小于2m/s;恢復(fù)時(shí)間小于10%暴露時(shí)間;箱壁溫度不超過(guò)試驗(yàn)溫度的3%(高溫)和8%(低溫)(開(kāi)爾文溫度)且樣品不直接受到輻射
    
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    GB/T2423.22:2002;IEC60068-2-14:2009
標(biāo)準(zhǔn)名稱    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化
試驗(yàn)Nb:規(guī)定溫度變化速率的溫度變化
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品耐環(huán)境溫度變化的能力和在環(huán)境溫度變化期間的工作能力
試驗(yàn)方法/條件    
嚴(yán)酷等級(jí)    嚴(yán)酷等級(jí)由高低溫度值、轉(zhuǎn)換時(shí)間和循環(huán)次數(shù)確定
溫度從低溫試驗(yàn)和高溫試驗(yàn)規(guī)定的試驗(yàn)溫度中選取
溫變速率為不超過(guò)5min的平均值，(1±0.2)℃/min、(3±0.6)℃/min、(5±1)℃/min
循環(huán)次數(shù)2次或者相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定
時(shí)間    暴露時(shí)間為3h，2h，1h，30min或10min
匹配設(shè)備    小型快速溫度變化試驗(yàn)箱，快速溫度變化試驗(yàn)箱，溫度循環(huán)試驗(yàn)箱
設(shè)備要求    風(fēng)速小于2m/s、恢復(fù)時(shí)間小于10%暴露時(shí)間、箱壁溫度不超過(guò)試驗(yàn)溫度的3%(高溫)
和8%(低溫)(開(kāi)爾文溫度)且樣品不直接受到輻射。
    
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    GB/T2423.22:2002;IEC60068-2-14:2009
標(biāo)準(zhǔn)名稱    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化
試驗(yàn)Nc:兩液槽法溫度快速變化
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度快速變化的能力
試驗(yàn)方法/條件    低溫槽裝有相關(guān)規(guī)范規(guī)定的低溫TA液體(0℃)、高溫槽裝有相關(guān)規(guī)范規(guī)定的高溫TB液體(100℃)、
低溫槽溫度不超過(guò)溫度值的2℃、高溫槽溫度不低于溫度值的5℃
嚴(yán)酷等級(jí)    嚴(yán)酷等級(jí)由規(guī)定的槽液溫度、轉(zhuǎn)換時(shí)間及循環(huán)數(shù)來(lái)確定(兩組標(biāo)準(zhǔn)條件)
循環(huán)次數(shù)為10次或者相關(guān)規(guī)范規(guī)定
時(shí)間    t2=(8±2)s5min≤t1＜20min(t2:轉(zhuǎn)換時(shí)間、t1:暴露時(shí)間)
t2=(2±1)s15s≤t1＜5min
匹配設(shè)備    液槽試?yán)錈釠_擊試驗(yàn)箱
設(shè)備要求    高低溫液槽，便于樣品浸入及迅速轉(zhuǎn)換
低溫槽溫度不超過(guò)溫度值的2℃、高溫槽溫度不低于溫度值的5℃
液體與試驗(yàn)樣品的材料和保護(hù)層適應(yīng)
    
6、潤(rùn)濕性非飽和高壓蒸煮試驗(yàn)
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    GB/T2423.40-1997;IEC60068-2-66/1994
標(biāo)準(zhǔn)名稱    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   試驗(yàn)樣品在相對(duì)短的時(shí)間內(nèi)承受*的未飽和濕熱蒸汽的作用
試驗(yàn)方法/條件    如相關(guān)規(guī)范有要求，應(yīng)在暴露期間給試驗(yàn)樣品施加偏壓
試驗(yàn)結(jié)束，箱內(nèi)的壓力、溫度和相對(duì)濕度在1~4h內(nèi)回復(fù)到測(cè)量和試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣條件
嚴(yán)酷等級(jí)    
時(shí)間    
匹配設(shè)備    高壓加速老化試驗(yàn)箱
設(shè)備要求    能夠產(chǎn)生要求的溫度和相對(duì)濕度，并能維持給定的壓力
提供受控試驗(yàn)條件并按要求的斜率上升或下降到規(guī)定的試驗(yàn)條件
能夠監(jiān)測(cè)溫度和濕度，試驗(yàn)前可以水蒸氣把空氣排出，不允許冷凝水跌落在試驗(yàn)品上
結(jié)構(gòu)材料不應(yīng)引起試驗(yàn)樣品腐蝕或加濕水的水質(zhì)劣化
    
7、絕緣電阻可靠性測(cè)試    
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    JPCA-ET04:2007
標(biāo)準(zhǔn)名稱    絕緣電阻試驗(yàn)
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   對(duì)實(shí)裝前印刷電路板在高溫高濕及加電的條件下進(jìn)行電子化學(xué)遷移及絕緣劣化進(jìn)行評(píng)價(jià)試驗(yàn)
試驗(yàn)方法/條件    (JPCA-ET01～09:2007，日本電子回路工業(yè)會(huì)，01通則，0240℃93%RH，0360℃90%RH，0485℃85%RH，
05溫度循環(huán)，06溫濕度組合(低溫)，07溫濕度組合，08不飽和蒸汽壓，09結(jié)露循環(huán))
嚴(yán)酷等級(jí)    10E12以上電阻測(cè)量，DC5～100V
時(shí)間    2,000h連續(xù)運(yùn)行可能
匹配設(shè)備    
設(shè)備要求    溫濕度箱:出風(fēng)口風(fēng)速2.5m/s以上;分布±2℃±3%RH;不會(huì)造成試樣及加濕水污染;無(wú)凝露水滴落
絕緣電阻測(cè)試儀:測(cè)量范圍E6～E12Ω(E13Ω參考值);內(nèi)置電源，試驗(yàn)電壓及測(cè)量電壓能夠任意選擇;測(cè)量電阻范圍能夠自動(dòng)選擇，加電時(shí)間能夠滿足規(guī)范JISZ3197(ANSIJSTD004)要求
    
9、鹽霧試驗(yàn)    
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    GB/T2423.17:2008;IEC60068-2-11:1981
標(biāo)準(zhǔn)名稱    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   適用于比較具有相似結(jié)構(gòu)的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力，也適用于評(píng)定保護(hù)性涂層的質(zhì)量以及均勻性
試驗(yàn)方法/條件    鹽溶液濃度(5±1)%(質(zhì)量比)，(35±2)℃時(shí)PH值6.5～7.2內(nèi)
試驗(yàn)箱的溫度維持在(35±2)℃，收集鹽霧每小時(shí)的沉降量在1.0～2.0mL之間及測(cè)試PH值
嚴(yán)酷等級(jí)    
時(shí)間    16h，24h，48h，96h，168h，336h，672h
匹配設(shè)備    SQ系列
設(shè)備要求    試驗(yàn)條件維持在規(guī)定的容差內(nèi)35±2℃,1ml～2ml/80cm^2•h;
足夠的空間內(nèi)條件穩(wěn)定均一，鹽霧不能直接噴射到樣件上，冷凝水不能跌落到樣品上
有排氣口(防風(fēng)保護(hù))維持箱內(nèi)的壓力，噴霧裝置形成細(xì)小、潤(rùn)濕、濃密的霧
    
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    GB/T2423.18:2000;IEC60068-2-52:1996
標(biāo)準(zhǔn)名稱    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb:鹽霧，交變(氯化鈉溶液)
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   適用于預(yù)定耐受含鹽大氣的元件或設(shè)備，其耐受程度隨選用的嚴(yán)酷等級(jí)定
試驗(yàn)方法/條件    鹽溶液濃度(5±1)%(質(zhì)量比)，(20±2)℃時(shí)PH值6.5～7.2內(nèi)
噴霧溫度在15～35℃，收集鹽霧每小時(shí)的沉降量在1.0～2.0mL之間
嚴(yán)酷等級(jí)    嚴(yán)酷等級(jí)(1):(2h噴霧周期+7天的濕熱貯存)*4次
嚴(yán)酷等級(jí)(2):(2h噴霧周期+20h～22h濕熱貯存)*3次
嚴(yán)酷等級(jí)(3):(2h噴霧周期+20h～22h濕熱貯存)*3次+標(biāo)準(zhǔn)大氣3天貯存
嚴(yán)酷等級(jí)(4),(5),(6):分別為(3)*2次、4次、8次
時(shí)間    
匹配設(shè)備    SQ系列+J系列
設(shè)備要求    試驗(yàn)條件維持在規(guī)定的容差內(nèi)35±2℃,1ml～2ml/80cm^2•h;足夠的空間穩(wěn)定均一、鹽霧不能直接噴射到樣件上、冷凝水不能跌落到樣品上、有排氣口(防風(fēng)保護(hù))維持箱內(nèi)的壓力、噴霧裝置形成細(xì)小、潤(rùn)濕、濃密的霧。
濕熱箱:(93-3+2)%、溫度40℃±2℃
標(biāo)準(zhǔn)大氣箱:溫度23℃±2℃、濕度45%～55%
    
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    GB/T10125:1997;ISO9227:2006
標(biāo)準(zhǔn)名稱    人造氣氛下的腐蝕實(shí)驗(yàn)-鹽霧試驗(yàn)
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   適用于比較具有相似結(jié)構(gòu)的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力，也適用于評(píng)定保護(hù)性涂層的質(zhì)量以及均勻性
試驗(yàn)方法/條件    鹽溶液濃度(5±1)%(質(zhì)量比)，(35±2)℃時(shí)PH值6.5～7.2內(nèi)試驗(yàn)箱的溫度維持在(35±2)℃，收集鹽霧每小時(shí)的沉降量在1.0～2.0mL之間及測(cè)試PH值
嚴(yán)酷等級(jí)    
時(shí)間    16h，24h，48h，96h，168h，336h，672h
匹配設(shè)備    SQ系列
設(shè)備要求    試驗(yàn)條件維持在規(guī)定的容差內(nèi)35±2℃,1ml～2ml/80cm^2•h;足夠的空間穩(wěn)定均一、鹽霧不能直接噴射到樣件上、冷凝水不能跌落到樣品上、有排氣口(防風(fēng)保護(hù))維持箱內(nèi)的壓力、噴霧裝置形成細(xì)小、潤(rùn)濕、濃密的霧
    
11、振動(dòng)試驗(yàn)    
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    GB/T2423.10:2008;IEC60068-2-6:2007
GB/T2423.56:2006;IEC60068-2-64:2008
標(biāo)準(zhǔn)名稱    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)和導(dǎo)則
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品經(jīng)受規(guī)定嚴(yán)酷程度(正弦、寬帶隨機(jī))振動(dòng)的能力
試驗(yàn)方法/條件    Fc的嚴(yán)酷等級(jí)--有三個(gè)參數(shù)確定:頻率范圍、振動(dòng)幅值、耐久試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間(定頻耐久、掃頻耐久);規(guī)范中選取
Fh的嚴(yán)酷等級(jí)—有四個(gè)參數(shù)確定:頻率范圍、加速度譜密度值、加速度譜密度的譜型、試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間;規(guī)范中選取
嚴(yán)酷等級(jí)    
時(shí)間    
匹配設(shè)備    電動(dòng)振動(dòng)試驗(yàn)系統(tǒng)
DC-3200-36:31.36KN(3,200kgf),980m/s2,51mmp-p,2～2,500Hz
設(shè)備要求    
    
12、溫度振動(dòng)試驗(yàn)    
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)    GB/T2423.35:2005;IEC60068-2-50:1983
GB/T2423.36:2005;IEC60068-2-51:1983
標(biāo)準(zhǔn)名稱    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z－AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫－振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z-Bfc:散熱和散熱試驗(yàn)樣品的高溫－振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)
試驗(yàn)?zāi)康?nbsp;   確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在(低溫/高溫)與振動(dòng)綜合條件下使用、貯存和運(yùn)輸?shù)倪m應(yīng)性。
試驗(yàn)方法/條件    
嚴(yán)酷等級(jí)    低溫試驗(yàn)/高溫試驗(yàn)確定溫度的嚴(yán)酷等級(jí)
從振動(dòng)試驗(yàn)Fc確定振動(dòng)的嚴(yán)酷等級(jí)
時(shí)間    
匹配設(shè)備    溫度、濕度、振動(dòng)三綜合試驗(yàn)設(shè)備
設(shè)備要求